博大精深 細致入微
HART物理層測試(二)
2024-10-16
《HART物理層測試(一)》講述過前三項:HART波形測試,載波啟動/停止和延遲時間測試,和HART信號瞬時的啟動和停止測試。
這篇文章接著講述后六項:靜止時的輸出聲測試,模擬變化率測試,輸入阻抗測試,發(fā)送阻抗測試,噪聲容限測試和載波檢測測試。
靜止時的輸出噪聲測試
當(dāng)HART主設(shè)備或從設(shè)備沒有發(fā)送(靜止)HART信號時,不能有噪聲耦合到HART通頻帶中。過大的噪聲對HART信號的接受會造成影響。并且雖然從一臺設(shè)備來的噪聲雖然很小,但是會對多站點配置的HART從設(shè)備造成較大的附加影響。下圖為通過模擬濾波器前端和后端的噪聲波形圖。
模擬變化率測試
當(dāng)從設(shè)備改變4~20mA模擬電流時,模擬電流最大的變化率不能影響HART信號的通訊。該項測試需要客戶預(yù)先編寫一條用于測試模擬變化率的HART命令。下圖為通過數(shù)字濾波器前端和后端的噪聲波形圖。
輸入阻抗測試
輸入阻抗可以反映多站點系統(tǒng)中HART設(shè)備的數(shù)量及HART信號傳輸?shù)淖钸h距離。通過下圖的公式及實例列表可以算出HART設(shè)備的在不同頻率下的輸入阻抗值。
計算公式為:
下面是高阻設(shè)備的檢測結(jié)果:
發(fā)送阻抗測試
發(fā)送阻抗也可以反映多站點系統(tǒng)中HART設(shè)備的數(shù)量及HART信號傳輸?shù)淖钸h距離。該測試項僅對低阻設(shè)備、執(zhí)行器設(shè)備及輔助設(shè)備進行測試。下圖的公式及實例列表可以算出HART設(shè)備的在不同頻率下的阻抗值,要求發(fā)送阻抗X0.8小于輸入陽抗。下面是低阻設(shè)備的計算公式及測試結(jié)果:
噪聲容限測試
噪聲容限測試指在差的噪聲條件下,HART設(shè)備依然可以接收有效的HART信號。噪聲容限測試要求見下表:
載波檢測測試
載波檢測測試內(nèi)容是是指HART接受設(shè)備必須能夠忽略低于80mVpp的信號同時必須能夠接受高于120mVpp的信號,下表是載波檢測測試樣例。
工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)接入點
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